納米離子探針簡介

　　納米離子探針（NanoSIMS, Nano Secondary Ion Mass Spectrometry）是一款以極高空間分辨率為優(yōu)勢的高靈敏同位素組成和元素含量微區(qū)分析設備，得益于其優(yōu)異的空間分辨率和二次離子圖像分析能力，在地球與行星科學、生物細胞、材料科學、環(huán)境與古氣候等領域得到了廣泛應用。 

　　納米離子探針通過將一次離子束（primary ion beam）垂直入射轟擊樣品表面激發(fā)二次離子（secondary ion beam），不同質荷比的二次離子通過質量分析器（magnetic sector mass filter）后被分開，根據信號強度大小可以選擇使用法拉第杯（FC）或電子倍增器（EM）接收，獲得單點離子信號強度（點分析，EM或FC）或二次離子圖像（圖像分析，EM），從而計算獲得樣品元素含量或同位素組成。

儀器介紹

CAMECA NanoSIMS 50L納米離子探針關鍵技術指標：

1) 高空間分辨率：銫源和射頻氧源均可實現(xiàn)低至50納米的極限空間分辨率。

2) 高傳輸效率：質量分辨率6000時二次離子傳輸效率大于55%，質量分辨率9000時二次離子傳輸效率大于25%。

3) 大動態(tài)范圍的多接收系統(tǒng)：可使用EM或FC同時采集七種不同質荷比的二次離子，所測元素最大質荷比與最小質荷比的比值可達22，如可同時測11B至質荷比為242（=11×22）之間的元素。

實驗室成員

楊亞楠，工程師，負責納米離子探針的運行、技術方法研發(fā)及其應用等工作。

    電話：020-85292137      Email：yangyn@gig.ac.cn      辦公室：同位素樓411室

張彥強，工程師，負責樣品制備與清洗等工作。

    電話：020-85290213      Email: zhangyq@gig.ac.cn      辦公室：同位素樓407室

 用戶須知

（1）用戶需認真填寫《中科院廣州地化所納米離子探針測試預約申請書》各項內容后提交實驗室（nanosims@gig.ac.cn）審核。

（2）預約成功后，實驗室安排進行樣品制備并等待上級測試。

附件：《中科院廣州地化所納米離子探針分析測試預約申請書》

歡迎來訪：

　　廣東省廣州市天河區(qū)科華街511號 中國科學院廣州地球化學研究所 標本樓南側負一層（下圖紅色五角星位置）

更新時間：2023年2月